Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications
Wee, Andrew Thye Shen
Yin, Xinmao
Tang, Chi Sin
88,19 €(IVA inc.)
- ISBN: 978-3-527-34951-7
- Editorial: Wiley VCH
- Encuadernacion: Rústica
- Páginas: 224
- Fecha Publicación: 30/03/2022
- Nº Volúmenes: 1
- Idioma: Inglés