Electronics Reliability Testing using HALT/HASS

Electronics Reliability Testing using HALT/HASS

Gray, Kirk

95,16 €(IVA inc.)
  • ISBN: 978-1-118-70023-5
  • Editorial: Wiley–Blackwell
  • Encuadernacion: Cartoné
  • Páginas: 300
  • Fecha Publicación: 12/09/2014
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés