Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto
Dilillo, Luigi
Girard, Patrick
Pravossoudovitch, Serge
Virazel, Arnaud
114,39 €(IVA inc.)
- ISBN: 978-1-4899-8314-5
- Editorial: Springer
- Encuadernacion: Rústica
- Fecha Publicación: 03/09/2014
- Nº Volúmenes: 1
- Idioma: Inglés