Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis

Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis

Balakrishnan, Narayanaswamy
Ling, Man Ho
So, Hon Yiu

115,65 €(IVA inc.)
  • ISBN: 978-1-119-66400-0
  • Editorial: Wiley–Blackwell
  • Encuadernacion: Cartoné
  • Páginas: 240
  • Fecha Publicación: 18/05/2021
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés